Porträt Volker Naumann

Profil

Dr. Volker Naumann | Teamleiter Defektdiagnostik

Forschungsschwerpunkte

 

  • elektrische Charakterisierung: ortsaufgelöste elektrische Charakterisierung, Schicht- und Übergangswiderstandsbestimmung und Defektdiagnostik bis in die Mikrometerskala; Lock-in Thermografie; Magnetfeld-basierte Analysen
  • Analytik: chemische Charakterisierung von Schichten und Grenzflächen mittels sensitiver Oberflächenanalytik (XPS, ToF-SIMS) sowie (analytischer) Elektronenmikroskopie (REM, EBIC/EBAC, TEM, STEM/EDX) in Kombination mit Zielpräparationsverfahren (z.B. FIB); Spezialanalytik für H2-Anwendungen
  • Entwicklung von Messverfahren und -aufbauten

 

Wissenschaftlicher Werdegang

 

  • seit 2022

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter in der Gruppe Materialdiagnostik für H2-Technologien und Teamleiter »Defektdiagnostik«

  • 2017-2021

    Teamleitung »Oberflächen- und Schichtcharakterisierung« in der Gruppe Diagnostik und Metrologie

  • 2015-2021

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Fraunhofer CSP in der Gruppe Diagnostik und Metrologie

 

Ausbildung

 

  • 2010-2014

    Promotion (mit Auszeichnung) an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg und Fraunhofer CSP zum Thema »Ursachenanalyse und physikalische Modellbildung für Potential-induzierte Degradation von Silizium-Solarzellen«

 

  • 2004-2009

    Studium Physik (Diplom) an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
    Thema der Diplomarbeit am Fraunhofer CSP: »Mikrostrukturuntersuchungen und elektrische Charakterisierung von lokalen Kontakten auf Solarzellen«

 

Preise und Auszeichnungen

 

  • V. Naumann, N. Schüler, C. Hagendorf, Best Poster Award, SNEC 2018 Scientific Conference in Area PV Modules & Systems für den Posterbeitrag Rapid PID testing and assessment of PID stability at installed PV modules
  • K. Ilse, J. Rabanal, L. Schönleber, M. Khan, V. Naumann, C. Hagendorf, J. Bagdahn, Best Student Paper Award auf der 44th IEEE PVSC in Washington DC am 29.06.2017 für "Comparing indoor and outdoor soiling experiments for different glass coatings and microstructural analysis of particle caking processes"
  • V. Naumann,DIN Innovationspreis 2017 für das Projekt "DIN SPEC 91348 - Prüfung von kristallinen Silicium-Solarzellen auf die Anfälligkeit für Potential-induzierte Degradation"
  • V. Naumann, D. Lausch, N. Schüler, C. Hagendorf, Best Poster Award der 26th International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-26) für den Posterbeitrag "Outdoor PID testing of modules in PV systems", 28.10.2016, Singapur
  • V. Naumann, Werkstoff-Preis 2016 der Schott AG für die Promotionsarbeit "Ursachenanalyse und physikalische Modellbildung für Potential-induzierte Degradation von Silizium-Solarzellen", 08.06.2016, Halle
  • V. Naumann, C. Hagendorf, D. Lausch, Ein PID-Testverfahren für Solarzellen und Solarmodulkomponenten, das Kosten und Zeit spart, Anerkennungspreis in der Kategorie "Lokaler Wissenschaftspreis des IQ Innovationspreis Mitteldeutschland", 07.07.2015, Halle
  • V. Naumann, Luther-Urkunde für die mit Auszeichnung bewertete Dissertation "Ursachenanalyse und physikalische Modellbildung für Potential-induzierte Degradation von Silizium-Solarzellen", 03.06.2015, Halle
  • V. Naumann, D. Lausch, K. Dornich, C. Hagendorf, Finalist für den Intersolar Europe Award 2015 mit der Einreichung "PIDcon: A PID Quick Test for Solar Cells and Module Components", 22.06.2015, München
  • V. Naumann, Finalist (beste 4) für den SolarWorld Junior Einstein Award 2015 mit der Dissertation "Ursachenanalyse und physikalische Modellbildung für Potential-induzierte Degradation von Silizium-Solarzellen", 22.05.2015, Freiberg (Sachsen)
  • V. Naumann, J. Bauer, O. Breitenstein, S. Großer, C. Hagendorf, D. Lausch, M. Schütze, SiliconPV Award (2. Platz) der 3rd International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics 2013 für den Beitrag "Towards a physical model for potential-induced degradation (PID) of silicon solar cells", 27.03.2013, Hameln
  • V. Naumann, D. Lausch, S. Großer, M. Werner, S. Swatek, C. Hagendorf, J. Bagdahn, Best Poster Award der PV Asia Pacific Conference 2012 für den Posterbeitrag "Spatially resolved microstructural root cause anaysis of potential-induced degradation (PID) of solar cells", 25.10.2012, Singapur

 

Publikationen
 

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