Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP
Ganzheitliche Analyse- und Messmethoden für Photovoltaik- und PEC‑Technologien
Solarenergie nutzen: Leistung, Langlebigkeit und Kosteneffizienz sind die entscheidenden Kennwerte für alle Technologien zur Energiegewinnung aus Sonnenlicht. Gemeinsam mit industriellen Auftraggebern sowie Partnern in Forschung und Entwicklung arbeitet die Gruppe »Diagnostik und Metrologie Solarzellen« an diesen Themen mit einem Fokus auf der Photovoltaik (PV) und künstlichen Photosynthese (PEC).
Das Team »Elektrische Charakterisierung« mit den Schwerpunkten Metrologie und Data Science ist dabei eng verbunden mit dem Team »c-Si Defektdiagnostik« mit Schwerpunkten in der mikrostrukturelle Materialanalytik und dem IP-Schutz. Dabei setzen sie Maßstäbe in der anwendungsnahen Messtechnik, Datenanalytik von Produktions- und Labordaten sowie Schadens- und IP-Verletzungsanalysen.
Dafür steht ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Methoden zur Verfügung – von einer industriellen Lab-to-Fab Metrologieplattform für die Erforschung von In-Line-Charakterisierungsmehoden bis hin zur atomaren Mikrostruktur- und Dünnschichtdiagnostik. Darüber hinaus werden in internationalen Kooperationen neue Schichtsysteme und Laserstrukturierungen für die Solarzellen der nächsten Generation entwickelt.
Wir bieten:
- Indoor- und Outdoor Testplattformen für PV- und PEC-Anwendungen, z.B. Bill-of-Materials-Tester
- Softwarelösungen zur Datenanalytik, z.B. die Statistical Multi-Image Analysis Software StaMIA
- Mikrostrukturdiagnostik an komplexen Schichstapeln, z.B. für Tandemsolarzellen
