Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP
Leistung, Zuverlässigkeit und Kosteneffizienz sind die entscheidenden Kennwerte für die perfekte Solarzelle. Gemeinsam mit industriellen Auftraggebern sowie Partnern in Forschung und Entwicklung arbeitet die Gruppe »Diagnostik und Metrologie Solarzellen« an diesen Themen. Die Teams »Elektrische Charakterisierung«, »c-Si Defektdiagnostik« und »Dünnschichtcharakterisierung« setzen Maßstäbe in der Qualitätssicherung und Schadensanalyse der Photovoltaik. Dafür steht ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Methoden zur Verfügung – von der Spurenelementanalytik über die Quanteneffizienz bis hin zur atomaren Mikrostrukturdiagnostik.
Forschungsaktivitäten reichen von der Charakterisierung des kristallisierten Solarsiliziums bis zur mikrostrukturbasierten Defektdiagnostik für die Dünnschicht-Photovoltaikindustrie. Darüber hinaus werden in internationalen Kooperationen neue Schichtsysteme und Laserstrukturierungen für die Solarzellen der nächsten Generation entwickelt.
Wir bieten:
- Schnelltestgeräte für Moduldefekte wie PID
- Elektrische Charakterisierung von Solarzellen, Wafern und Blöcken
- Mikrostrukturdiagnostik an kristallinen Solarzellen
