Verbessertes Messsystem für Dünnschichtmodule

Im Rahmen eines dreijährigen Forschungsvorhabens entwickelt das Fraunhofer CSP ein neuartiges Messverfahren, mit dem es möglich ist, großflächig und zerstörungsfrei die Schichteigenschaften von Dünnschichtmodulen zuverlässig zu bewerten.

mehr Info

Smarte Filteranlage ermöglicht die Analyse von Mikroplastik im Wasser

Am Fraunhofer CSP wurde eine Silizium-Filteranlage entwickelt, die die Untersuchung von Gewässern auf Mikroplastik erleichtert.

mehr Info

Wie beständig sind Solarglasbeschichtungen?

Die regelmäßige Reinigung von PV-Modulen kann Glasoberflächen und Glasbeschichtungen beschädigen. Im Rahmen einer Studie hat das Fraunhofer CSP nun das Schadenspotenzial der Reinigung von Solarglas untersucht.

mehr Info

Neue Materialien für Dünnschichtsolarmodule

Dünnschicht-Solarmodule auf Basis von Cadmiumtellurid (CdTe) verbinden hohen Wirkungsgrad mit niedrigeren Herstellungskosten. Damit das nicht nur im Labor, sondern auch im Industriemaßstab funktioniert, kooperieren Fraunhofer CSP und Calyxo in einem neuen Projekt.

mehr Info

Diagnostik Solarzellen

Dem kleinsten Fehler auf der Spur

© Fraunhofer CSP

Dr. Christian Hagendorf beim Bestücken des PIDcon.

Leistung, Zuverlässigkeit und Kosteneffizienz sind die entscheidenden Kennwerte für die perfekte Solarzelle. Gemeinsam mit industriellen Auftraggebern sowie  Partnern in Forschung und Entwicklung arbeitet die Gruppe »Diagnostik Solarzellen« an diesen Themen. Die Teams »Elektrische Charakterisierung«, »c-Si Defektdiagnostik« und »Dünnschichtcharakterisierung« setzen Maßstäbe in der Qualitätssicherung und Schadensanalyse der Photovoltaik. Dafür steht ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Methoden zur Verfügung – von der Spurenelementanalytik über die Quanteneffizienz bis hin zur atomaren Mikrostrukturdiagnostik.

Forschungsaktivitäten reichen von der Charakterisierung des kristallisierten Solarsiliziums bis zur mikrostrukturbasierten Defektdiagnostik für die Dünnschicht-Photovoltaikindustrie. Darüber hinaus werden in internationalen Kooperationen neue Schichtsysteme und Laserstrukturierungen für die Solarzellen der nächsten Generation entwickelt.

 

Wir bieten:

  • Schnelltestgeräte für Moduldefekte wie PID
  • Elektrische Charakterisierung von Solarzellen, Wafern und Blöcken
  • Mikrostrukturdiagnostik an kristallinen Solarzellen und Dünnschichtmodulen

Leistungsspektrum

 

c-Si-Defektdiagnostik vom Modul bis zum Atom

 

Dünnschicht-PV: Mikroanalytik und Laser-
strukturierung

 

Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

 

Elektrische
Charakterisierung