Neue Materialien für Dünnschichtsolarmodule

Dünnschicht-Solarmodule auf Basis von Cadmiumtellurid (CdTe) verbinden hohen Wirkungsgrad mit niedrigeren Herstellungskosten. Damit das nicht nur im Labor, sondern auch im Industriemaßstab funktioniert, kooperieren Fraunhofer CSP und Calyxo in einem neuen Projekt.

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Susanne Richter vom Fraunhofer CSP ausgezeichnet

Für ihre Doktorarbeit zu Kristallisationsprozessen von Silizium für die Photovoltaik erhält Susanne Richter den Heinz-Bethge-Nachwuchspreis.

Qualitätskontrolle mit Raman-Spektroskopie

Raman-Spektroskopie kann es möglich machen, Verunreinigungen im Material von Solarzellen während der Produktion zu erkennen und analysieren. Gemeinsam mit Partnern will das Fraunhofer CSP diese Idee weiterentwickeln.

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Präziser LID-Test für PERC-Zellen

PERC-Zellen können durch LID an Leistung einbüßen. Wie stark sie betroffen sind, ermittelt das vom Fraunhofer CSP entwickelte Testgerät LID Scope.

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Diagnostik Solarzellen

Dem kleinsten Fehler auf der Spur

© Foto Fraunhofer CSP

Dr. Christian Hagendorf beim Bestücken des PIDcon.

Leistung, Zuverlässigkeit und Kosteneffizienz sind die entscheidenden Kennwerte für die perfekte Solarzelle. Gemeinsam mit industriellen Auftraggebern sowie  Partnern in Forschung und Entwicklung arbeitet die Gruppe »Diagnostik Solarzellen« an diesen Themen. Die Teams »Elektrische Charakterisierung«, »c-Si Defektdiagnostik« und »Dünnschichtcharakterisierung« setzen Maßstäbe in der Qualitätssicherung und Schadensanalyse der Photovoltaik. Dafür steht ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Methoden zur Verfügung – von der Spurenelementanalytik über die Quanteneffizienz bis hin zur atomaren Mikrostrukturdiagnostik.

Forschungsaktivitäten reichen von der Charakterisierung des kristallisierten Solarsiliziums bis zur mikrostrukturbasierten Defektdiagnostik für die Dünnschicht-Photovoltaikindustrie. Darüber hinaus werden in internationalen Kooperationen neue Schichtsysteme und Laserstrukturierungen für die Solarzellen der nächsten Generation entwickelt.

 

Wir bieten:

  • Schnelltestgeräte für Moduldefekte wie PID
  • Elektrische Charakterisierung von Solarzellen, Wafern und Blöcken
  • Mikrostrukturdiagnostik an kristallinen Solarzellen und Dünnschichtmodulen

Leistungsspektrum

 

c-Si-Defektdiagnostik vom Modul bis zum Atom

 

Dünnschicht-PV: Mikroanalytik und Laserstrukturierung

 

Elektrische Charakterisierung